《集成电路芯片测试技术》 - 居水荣 - 西安电子科技大学出版社 - 香港大書城

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『簡體書』集成电路芯片测试技术

書城自編碼： 3620555
分類：簡體書→大陸圖書→教材→高职高专教材
作者：居水荣
國際書號(ISBN)： 9787560659541
出版社：西安电子科技大学出版社
出版日期： 2021-03-01

頁數/字數： /
書度/開本： 16开釘裝：平装

售價：HK$ 43.8

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內容簡介：

本书是从微电子产业实际岗位需求出发，结合作者多年企业工作经验及一线教学经验编写而成的。书中详细介绍了目前业界常见的各类集成电路芯片的测试原理、测试方法以及测试程序的编写，具体包括各类组合/时序逻辑电路测试、ADC/DAC芯片测试、存储器/微控制器测试、集成运放/电源管理芯片测试等，同时还介绍了晶圆探针台、测试机的使用。
本书可作为高职院校微电子技术专业的核心课程教材，亦可作为全国职业院校技能大赛“集成电路开发及应用”赛项的备赛训练参考教材。

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