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『簡體書』集成电路测试技术与实践

書城自編碼: 4148538
分類:簡體書→大陸圖書→教材研究生/本科/专科教材
作者: 刘晋东 等
國際書號(ISBN): 9787111787457
出版社: 机械工业出版社
出版日期: 2024-12-01

頁數/字數: /
書度/開本: 16开 釘裝: 平装

售價:HK$ 64.9

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編輯推薦:
本书注重理论与实践相结合,并配套电子课件、电子教案、二维码视频、软件工具包、设备资源包丰富的教学资源,辅助教师教学。
內容簡介:
本书聚焦集成电路测试领域,系统且全面地阐述了相关理论、技术与实践应用,为集成电路相关专业学生及从业者提供了极具价值的知识体系。本书将理论知识与丰富的实际案例相结合,紧跟行业前沿技术,为读者提供了集成电路测试领域从基础到前沿、从理论到实践的全方位指导,是一本助力读者掌握集成电路测试技术、解决实际问题的实用教材。 來源:香港大書城megBookStore,http://www.megbook.com.hk
全书共6章,分别是绪论、集成电路测试技术基础、数字集成电路测试技术与实践、模拟集成电路测试技术与实践、数模混合集成电路测试技术与实践,以及其他典型电路测试技术与实践。本书内容具有较强的实践性,理论学习与实践相结合,在实践过程中,注重观察和思考,将理论知识应用到实际测试中,从而加深读者对知识的理解和记忆。
本书可作为普通高等学校集成电路设计、集成电路技术、微电子技术、电子科学与技术等相关专业的实践课程教材,也可作为从事集成电路相关工作工程技术人员的参考书籍。
關於作者:
刘晋东,北京曾益慧创科技有限公司联合创始人、首席市场及产品官,FPGA研发工程师出身,曾在全球自动化测试测量技术领导者NI任亚太院校合作经理,了解国际工程教育发展和改革趋势,深度参与国内外多所高校集成电路专业和课程建设工作。首批“集成电路设计与集成系统专业”虚拟教研室专家成员、全国大学生集成电路创新创业大赛技术导师委员会专家、国家集成电路创新中心集成电路人才发展委员会专家、中国半导体行业协会集成电路分会人才储备基地专家委员会专家、第三代半导体产业技术创新战略联盟人才发展工作委员会委员。与国内高校老师合作出版6本专著、教材,发表多篇与校企合作人才培养、教学改革相关的论文。
目錄
第1章 绪论
1.1 集成电路测试技术与实践教学的重要性
1.1.1 我国集成电路产业发展需要更多的集成电路测试人才
1.1.2 集成电路测试人才的知识和技能需要通过实践教学培养
1.2 集成电路测试技术与实践课程体系
1.2.1 集成电路测试技术与实践教学的目标
1.2.2 集成电路测试技术与实践课程内容架构
1.3 本集成电路测试实践教程的特色
1.3.1 适合作为集成电路测试技术初学者的入门教材
1.3.2 兼顾研发测试和量产测试的教学内容设计
1.3.3 匹配工程教育专业认证标准
1.3.4 利用数字化和智能化技术手段赋能实践教学
1.4 IECUBE-3839集成电路研发及量产测试通用平台
1.4.1 当前集成电路测试实训室建设的痛点
1.4.2 IECUBE-3839使用场景及功能特色
1.4.3 IECUBE-3839数智化能力介绍
1.5 IECUBE Online数智化平台
1.5.1 IECUBE Online研发背景及功能概览
1.5.2 IECUBE Online过程性实验和实践教学数据记录与评价
第2章 集成电路测试技术基础
2.1 集成电路测试的基本概念
2.1.1 集成电路测试的定义
2.1.2 集成电路测试的基本原理
2.1.3 集成电路测试的意义与作用
2.2 集成电路测试的主要环节
2.2.1 制定测试方案
2.2.2 设计测试接口板
2.2.3 开发测试程序
2.2.4 分析测试数据
2.3 集成电路测试的分类、行业现状及发展趋势
2.3.1 集成电路测试的分类
2.3.2 集成电路测试行业现状及发展趋势
2.4 集成电路测试面临的挑战
2.4.1 行业发展挑战
2.4.2 测试技术挑战
2.5 集成电路测试技术基础实践项目:74系列芯片测试
2.5.1 74系列芯片测试技术概述
2.5.2 实践项目概述
2.5.3 任务1:理解74系列芯片测试参数及测试原理
2.5.4 任务2:74系列芯片手动测试实践
2.5.5 任务3:74系列芯片自动化测试实践
第3章 数字集成电路测试技术与实践
3.1 数字集成电路测试技术概述
3.1.1 数字集成电路测试中常见的芯片类型
3.1.2 数字集成电路测试参数类型
3.1.3 数字集成电路测试仪器
3.2 数字集成电路测试技术实践项目:存储器芯片测试
3.2.1 实践项目概述
3.2.2 任务1:理解存储器测试参数及测试原理
3.2.3 任务2:存储器手动测试实践
3.2.4 任务3:存储器自动化测试实践
第4章 模拟集成电路测试技术与实践
4.1 模拟集成电路测试技术概述
4.1.1 模拟集成电路测试中常见的芯片类型
4.1.2 模拟集成电路测试参数类型
4.1.3 模拟集成电路测试仪器
4.2 模拟集成电路测试技术实践项目:集成运算放大器芯片测试
4.2.1 实践项目概述
4.2.2 任务1:理解运算放大器测试参数及测试原理
4.2.3 任务2:运算放大器手动测试实践
4.2.4 任务3:运算放大器自动化测试实践
第5章 数模混合集成电路测试技术与实践
5.1 数模混合集成电路测试技术概述
5.1.1 数模混合集成电路测试中常见的芯片类型
5.1.2 数模混合集成电路测试主要参数
5.1.3 数模混合集成电路测试仪器
5.2 数模混合集成电路测试技术实践项目:ADC芯片测试
5.2.1 实践项目概述
5.2.2 任务1:理解ADC芯片测试参数及测试原理
5.2.3 任务2:ADC芯片手动测试实践
5.2.4 任务3:ADC芯片自动化测试实践
第6章 其他典型电路测试技术与实践
6.1 SoC测试技术概述及实践项目
6.1.1 SoC芯片测试技术概述
6.1.2 SoC芯片测试
6.2 MEMS测试技术概述及实践项目
6.2.1 MEMS芯片测试技术概述
6.2.2 MEMS测试
6.3 专用芯片测试技术概述及实践项目
6.3.1 专用芯片测试技术概述
6.3.2 电力专用计量芯片测试
6.4 RFIC芯片测试技术概述及实践项目
6.4.1 RFIC芯片测试技术概述
6.4.2 RFIC芯片测试
附录
附录A 实验报告及成绩考评要求
附录B IECUBE-3839测试接口板接口定义
附录C IECUBE-3839外接分选机、探针台等外设扩展接口定义
参考文献
內容試閱
集成电路是现代科技发展的基石与核心驱动力,自 20 世纪中叶集成电路诞生以来,它以前所未有的速度推动着各个领域的变革。集成电路测试处于集成电路产业链的关键位置,是确保产品质量与性能的核心环节,集成电路制造过程极为复杂,涉及光刻、刻蚀、离子注入等数十道甚至上百道精密工序,在如此复杂的制造流程中,即使采用最先进的生产技术和严格的质量控制体系,也难免会出现各种缺陷。集成电路测试的主要目的在于检测这些潜在的缺陷,确保符合质量标准的产品进入市场,功能测试是其中的重要环节,它验证集成电路是否能够按照设计要求执行各种逻辑功能,而参数测试则专注于测量集成电路的电气参数,如工作电压范围、电流消耗、信号传输延迟等,确保芯片在规定的电气条件下能够稳定工作。
本书编写的主要目的是为集成电路相关专业的学生、从事集成电路测试工作的工程技术人员以及对该领域感兴趣的人士,提供一套全面、系统且具有实践指导意义的集成电路测试知识体系。通过学习本书,读者将深入理解集成电路测试的基本原理、掌握各类测试技术与方法、熟悉常用的测试设备与流程,并能够运用所学知识解决实际工作中的测试问题。同时,本书也希望激发读者对集成电路测试领域的进一步探索和创新,为推动我国集成电路产业的发展贡献力量。
本 书 特 色
本书从集成电路测试的基础理论出发,逐步深入到各类测试技术、测试设备、测试流程以及测试数据分析等方面,构建了一个完整的知识体系。
在学习测试基础理论的同时,本书特别注重实践应用。书中配备了大量来自实际工程的实践项目,这些实践项目涵盖了不同类型的集成电路和测试场景,帮助读者将理论知识与实际操作紧密结合。每个章节包括行业测试技术实践项目,每个项目包括三个任务,三个任务之间有一定的顺序性和渐进性,从芯片测试基础知识,到芯片测试的深入理解,再到芯片的自动化测试,这是一个不断递进的学习过程,读者通过完成任务,可以加深对知识的理解和掌握。
考虑到读者在知识背景和专业水平上的差异,本书在语言表达上力求通俗易懂,避免使用过于晦涩的专业术语。对于复杂的概念和技术,通过生动的比喻、丰富的图表和实例给出深入浅出的解释,确保读者能够轻松理解和掌握核心内容。
教 学 建 议
作为教材,本书适合安排48学时,我们充分考虑了高校不同层次、不同学科的教学需求,教师可根据院校的实际需求组织教学,灵活选用相关内容,读者可根据需要自主学习。我们衷心希望这本教材能够满足广大学生和教师的需求,为培养高素质创新型的集成电路测试行业专业人才做出贡献。
本书的构思、统稿和审核工作由刘晋东主持,第1章由张弘、管连编写;第2章由张弘、娄永乐编写;第3章由张弘、王军编写;第4章由娄永乐、李世杰编写;第5章由张弘、寇镇编写;第6章由娄永乐、寇镇编写。
本书在编写与出版过程中得到了高等学校电子信息类专业教学指导委员会集成电路类专业课程及教材研究与建设课题项目的大力支持,以及众多领导、专家、学生的热情鼓励和帮助,在此特向他们致以衷心的感谢。
由于编者水平有限,书中疏漏之处在所难免,恳请读者不吝指正!

 

 

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