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| 編輯推薦： |
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本书立足“岗”——集成电路芯片测试岗位工作任务、“课”——集成电路测试实训、“赛”——全国职业院校技能大赛“集成电路开发及应用”赛项竞赛、“证”——集成电路“1 X”职业技能等级（中级）考证三大内容，校企合作开发任务驱动工单式立体式新形态教材。教材在强化集成集成电路测试核心技能与核心知识点的同时，融入思政元素，注重职业素养的养成，综合提升了学生自主创新能力、动手能力、协作能力和职业素养，有助于提高学生的就业水平。
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| 內容簡介： |
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本书基于职业岗位能力要求，立足新时代“中国芯”发展的战略需求，精心设计了6个项目，由浅入深、系统全面地介绍集成电路测试相关知识与技能。从搭建集成电路测试环境，到数字芯片和模拟芯片的典型参数测试，再到功能测试和综合电路测试，全方位训练学生的集成电路测试综合技能。在每个项目中都引导学生传承工匠精神，将个人理想与民族复兴结合起来，立志肩负时代重任。本书在编写过程中，注重理论与实践相结合，强调学以致用、知行合一。每个项目都提供了详实的背景资料、详细的操作步骤和大量案例，引导学生从“要我学”变为“我要学”，带着问题学，及时巩固练习。同时，每个项目后还专门设置了拓展知识，进一步拓宽专业视野，为后续学习预留空间。本书可作为职业本科、高职高专院校电子信息类相关专业的教材，尤其适合电子制造技术、集成电路等专业，也可供从事集成电路测试工作和对此感兴趣的工程技术人员参考。
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| 關於作者： |
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林洁，2002.8至今金华职业技术大学，电子设计（初级）工程师考评员、朗迅第四批1 X证书专家，加速科技集成电路中级讲师。主要研究方向：嵌入式开发。主持参与各级教科研项目8项，其中主持省厅级项目1项，参与省基金项目1项，参与智能电子产品设计与制作国家精品课程、国家共享资源库建设各1项，主持微控制器应用校精品课程建设1项。获得实用新型专利11项，软件著作权1项。主编单片机类教材4本，副主编集成电路类教材3本。指导学生参加全国大学生技能竞赛和学科竞赛获全国一等奖1项，全国二等奖4项，全国三等奖4项，其他类省级三等奖以上40余项。指导学生申报浙江省大学生科技创新项目4项。
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| 目錄：
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前言项目1搭建集成电路测试环境项目导读1.1知识储备：初识集成电路测试1.1.1集成电路测试分类1.1.2FT原理及流程1.1.3FT常用设备1.2创建第一个集成电路测试工程文件1.2.1CD4511芯片测试任务描述1.2.2CD4511数据手册阅读1.2.3认识集成电路测试系统1.2.4创建集成电路测试工程文件1.2.5测试程序编写说明1.3创建集成电路测试工程文件常见错误1.4练一练1.5拓展知识1.5.1测试机编程手册1.5.2测试机使用注意事项项目2数字芯片典型参数测试项目导读2.1知识储备：数字芯片典型参数测试原理及测试工装2.1.1开/短路测试原理2.1.2漏电流测试原理2.1.3输出电平测试原理2.1.4电源供电电流测试原理2.1.5数字芯片参数测试工装2.2对地开/短路测试2.2.1对地开/短路测试任务描述2.2.2对地开/短路测试任务实施2.3对电源开/短路测试2.3.1对电源开/短路测试任务描述2.3.2对电源开/短路测试任务实施2.4输入高电平漏电流测试2.4.1输入高电平漏电流测试任务描述2.4.2输入高电平漏电流测试任务实施2.5输入低电平漏电流测试2.5.1输入低电平漏电流测试任务描述2.5.2输入低电平漏电流测试任务实施2.6输出高电平测试2.6.1输出高电平测试任务描述2.6.2输出高电平测试任务实施2.7输出低电平测试2.7.1输出低电平测试任务描述2.7.2输出低电平测试任务实施2.8电源供电电流测试2.8.1电源供电电流测试任务描述2.8.2电源供电电流测试任务实施2.9参数测试常见错误2.10练一练2.11拓展知识2.11.1职业规范概述2.11.28S管理方式2.11.3“8个为零”的8S管理成效项目3典型数字芯片功能测试项目导读3.1知识储备：关键器件及芯片简介3.1.1数码管简介3.1.274LS48芯片简介3.1.374HC157芯片简介3.1.474HC393芯片简介3.1.574HC283芯片简介3.274LS48芯片功能测试3.2.174LS48芯片功能测试任务描述3.2.274LS48芯片功能测试任务实施3.374HC157芯片功能测试3.3.174HC157芯片功能测试任务描述3.3.274HC157芯片功能测试任务实施3.474HC393芯片功能测试3.4.174HC393芯片功能测试任务描述3.4.274HC393芯片功能测试任务实施3.574HC283芯片功能测试3.5.174HC283芯片功能测试任务描述3.5.274HC283芯片功能测试任务实施3.6典型数字芯片功能测试常见错误3.7练一练3.8拓展知识——两位数码管显示驱动项目4模拟芯片典型参数测试项目导读4.1知识储备：模拟芯片典型参数测试原理4.1.1输入失调电压测试原理4.1.2输出短路电流测试原理4.1.3共模抑制比测试原理4.1.4开环增益测试原理4.1.5关键模拟芯片简介4.2输入失调电压测试4.2.1输入失调电压测试任务描述4.2.2输入失调电压测试任务实施4.3输出短路电流测试4.3.1输出短路电流测试任务描述4.3.2输出短路电流测试任务实施4.4共模抑制比测试4.4.1共模抑制比测试任务描述4.4.2共模抑制比测试任务实施4.5开环增益测试4.5.1开环增益测试任务描述4.5.2开环增益测试任务实施4.6模拟芯片典型参数测试常见错误4.7练一练4.8拓展知识——线性稳压器测试4.8.1测试工装准备4.8.2LD1117芯片输出电压测试4.8.3LD1117芯片负载调整率测试项目5运放典型功能测试项目导读5.1知识储备：运放典型功能测试原理5.1.1同相比例放大电路测试原理5.1.2反相比例放大电路测试原理5.1.3加法运算电路测试原理5.2同相比例放大电路测试5.2.1同相比例放大电路测试任务描述5.2.2同相比例放大电路测试任务实施5.3反相比例放大电路测试5.3.1反相比例放大电路测试任务描述5.3.2反相比例放大电路测试任务实施5.4加法运算电路测试5.4.1加法运算电路测试任务描述5.4.2加法运算放大电路测试任务实施5.5LM358功能测试常见错误5.6练一练5.7拓展知识——加法运算电路交流输入测试项目6综合电路测试项目导读6.1知识储备：识读综合电路6.2电压调档显示综合练习板测试6.2.1电压调档显示综合练习板测试任务描述6.2.2电压调档显示综合练习板测试任务实施6.3电压采集显示电路测试6.3.1电压采集显示电路测试任务描述6.3.2电压采集显示电路测试任务实施6.4练一练6.5拓展知识——LK8300测试系统参考文献
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| 內容試閱：
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集成电路是信息技术的核心，其质量和可靠性直接关系到电子设备乃至重大工程系统的安全运行。然而，随着制造工艺和芯片设计的日益复杂，集成电路的生产过程中不可避免地存在着各种缺陷和故障风险，给测试验证工作带来巨大挑战。集成电路测试是现代电子信息产业的重要环节，对保证集成电路产品质量、提升产业竞争力至关重要。芯片制造从原料到成品，要经过上百道工序，每个环节都可能引入缺陷或故障，只有通过严格、全面、精准的测试，层层把关，才能将有问题的芯片筛选出来，确保最终交付用户的每一颗芯片都是合格品。测试既是芯片实现产品化的“最后一公里”，也是保障电子整机和系统可靠运行的“第一道防线”。集成电路测试工程师肩负着这一关键职责，必须具备扎实的专业知识和过硬的实践技能。工匠精神体现在每一个细节中，体现在每一件产品中，体现在每一位工人的认真态度和精湛技艺中。这种精神，同样适用于集成电路测试领域。本书依据“项目驱动、做中学”的编写思路，以解决实际芯片测试的思路和操作为编写主线，以典型数字芯片参数及功能测试、典型模拟芯片参数及功能测试和综合测试为案例，在每个项目中都融入思政元素，引导学生传承工匠精神，将个人理想与民族复兴结合起来，立志肩负时代重任。本书的一大特色是将思政教育与专业教学深度融合，将习近平新时代中国特色社会主义思想及社会主义核心价值观贯穿教学全过程。每个项目又将相关知识和职业岗位基本技能结合在一起，把知识、技能的学习融入测试项目完成过程中。本书重点突出技能培养在课程中的主体地位，采用通用仪器仪表测试方案及专用测试平台测试方案并行的教学模式，配有丰富的微课视频和教学资源。读者可以直接登录“学银在线”（https://wwwxueyinonlinecom/detail/241352538）加入在线课程学习。本书采用“教、学、做一体化”教学模式，可作为职业本科、高职高专院校微电子、电子信息、集成电路等相关专业集成电路测试课程的教材，也可作为从事集成电路测试工作和对此感兴趣的工程技术人员的参考书。设计学时为48~64学时。参考学时分配：项目1为4学时、项目2为8~12学时、项目3为12~16学时、项目4为12~16学时、项目5为9~12学时、项目6为3~4学时。本书作者团队中既有学校的骨干教师，又有项目研发人员和高新企业的工程师。金华职业技术大学林洁担任主编，并对本书的编写思路与大纲进行了总体规划，指导全书的编写，承担全书的统稿工作；苏州经贸职业技术学院张庆芳、杭州朗迅科技股份有限公司祝赛君担任副主编；金华职业技术大学王诗怡、刘雨潇和江西机电职业技术学院付裕参编。杭州朗迅科技股份有限公司提供本书配套的专用测试平台、典型应用项目以及集成电路测试相关岗位的课程资源。项目1~项目3由林洁编写，项目4和项目5由祝赛君编写，思政设计、项目6案例一由张庆芳编写，项目6案例二由付裕编写，项目2部分案例和实训任务单由王诗怡编写。全书配套的教学微课、实操演示视频主要由林洁、祝赛君、王诗怡、刘雨潇完成。参加本书电路调试、程序调试、测试验证、素材收集、校对等工作的还有王天阳、麻洲豪、林树田、金礼鹏、黄崇轲、叶文强、刘洋、王江浩、赵进、尚琴、余超、王嘉靖等，在此一并表示衷心感谢。集成电路测试既需要扎实的理论基础知识，又需要缜密的逻辑思维能力和娴熟的动手实践技能。测试工程师必须精通芯片的工作原理和接口定义，熟练操作各类测试仪器设备，制定科学高效的测试方案，精准分析海量的测试数据。同时，在日益激烈的市场竞争中，测试效率和成本控制也至关重要。这些都对测试工程师的综合素质提出了更高要求。站在“两个一百年”的历史交汇点，面对日趋复杂的国际形势和日益激烈的科技竞争，唯有锚定“建设制造强国、实现高水平科技自立自强”的战略目标，才能在集成电路等关键领域补短板、强弱项。集成电路测试虽默默无闻，却是这场接力跑中不可或缺的一棒。让我们秉持对科学的严谨和对技术的精益求精，脚踏实地，久久为功，在平凡的测试工作中践行初心使命，在攻坚克难中诠释青春价值，用执着和坚守铸就大国工匠的时代荣光！由于编者水平有限，书中难免会有不妥之处，敬请广大读者和专家批评指正。书中的器件引脚图统一用立创EDA绘制，仿真图统一用Multisim绘制，图中个别器件的符号与国标不符，请读者注意。编者
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