《工程纳米测量基础（第二版）（引进版）》 - ：[英]理查德·利奇|译者:袁道成朱学亮刘乾何华彬 - 浙江大学出版社 - 香港大書城

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『簡體書』工程纳米测量基础（第二版）（引进版）

書城自編碼： 3128805
分類：簡體書→大陸圖書→工業技術→機械/儀表工業
作者：：[英]理查德·利奇|译者:袁道成朱学亮刘乾何华彬
國際書號(ISBN)： 9787308175630
出版社：浙江大学出版社
出版日期： 2018-03-01

書度/開本： 16开

售價：HK$ 139.2

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編輯推薦：

理查德利奇著的《工程纳米测量基础第2版》从先进制造技术质量控制角度，介绍了测量基础知识、精密测量仪器设计原则、长度测量溯源、位移测量、表面形貌测量仪器、扫描探针和粒子束显微镜、表面形貌特征描述、坐标测量、质量和力的测量的测量国际单位及其在NPL的实现等。本书可作为测量技术、机械设计和机械加工等相关专业研究人员、高校师生以及工程技术人员的参考用书，也可用作高校相关专业的基础教材。

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