《可靠性试验》 - 胡湘洪,高军,李劲,工业和信息化部电子第五研究所 - 电子工业出版社 - 香港大書城

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『簡體書』可靠性试验

書城自編碼： 2693162
分類：簡體書→大陸圖書→工業技術→一般工业技术
作者：胡湘洪,高军,李劲,工业和信息化部电子第五研究所
國際書號(ISBN)： 9787121272462
出版社：电子工业出版社
出版日期： 2015-10-01
版次： 1 印次： 1
頁數/字數： 243/327600
書度/開本： 16开釘裝：平装

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編輯推薦：

《可靠性试验》适合于产品研发设计、生产制造、质量检测等方面的工程技术人员阅读，也可作为可靠性工程相关教学人员、认证和检测机构技术人员的参考用书，还可作为高等院校学生的教材。

內容簡介：

本书以可靠性试验为主线，系统全面地介绍了产品在研制和生产等各阶段所需用到的可靠性试验技术，对各类可靠性试验的试验目的、试验原理、试验方案与试验条件等进行了阐述，并结合案例对试验实施方法进行了详细说明。本书共7章，对设计阶段的可靠性仿真，研制和批产阶段的环境应力筛选，适用于研制各阶段的可靠性强化，用于产品定型的可靠性鉴定，面向复杂大系统的可靠性综合评价，面向高可靠、长寿命指标的加速试验与快速评价等多种试验方法均进行了系统的介绍。

關於作者：

胡湘洪，博士，工信部电子五所可靠性与环境工程中心主任；国际信息安全控制协会注册信息安全经理，美国质量协会注册质量工程师；领导电子五所可靠性与环境工程中心，承担近十项国家重点型号工程的可靠性技术支撑工作、上百项产品定型可靠性与环境试验评价工作。

第1章可靠性试验概述（1）
1.1 可靠性试验目的（1）
1.2 可靠性试验工作项目（2）
1.3 可靠性试验分类（4）
1.3.1 按试验场地分类（4）
1.3.2 按施加应力的原则分类（6）
1.3.3 按应用阶段分类（6）
1.3.4 按试验的目的和性质分类（6）
1.4 可靠性研制试验（7）
1.4.1 可靠性研制试验特点（8）
1.4.2 可靠性研制试验发展（8）
1.4.3 可靠性研制试验应用对象（9）
1.4.4 可靠性研制试验应用时机（9）
1.4.5 可靠性研制试验所用的应力（9）
1.4.6 可靠性研制试验的工作要点及注意事项（10）
1.5 可靠性定型试验（10）
1.5.1 可靠性设计定型试验（10）
1.5.2 可靠性生产定型试验（12）
1.6 寿命试验（14）
1.6.1 试验依据（14）
1.6.2 适用范围与适用时机（14）
1.6.3 产品寿命参数（14）
1.6.4 产品寿命试验分类及方法（15）
1.6.5 试验室使用寿命试验（15）
1.6.6 综合验证试验法（16）
1.7 可靠性试验新技术（20）
1.7.1 可靠性强化试验（20）
1.7.2 可靠性加速试验（22）
参考文献（26）
第2章可靠性仿真试验（27）
2.1 可靠性试验目的（27）
2.2 可靠性仿真试验理论（28）
2.2.1 有限元法仿真理论（29）
2.2.2 故障预计仿真理论（35）
2.3 可靠性仿真试验工作内容（37）
2.4 可靠性仿真试验软硬件要求（38）
2.4.1 CAD模型建模软件要求（38）
2.4.2 CFD模型建模软件要求（39）
2.4.3 FEA模型建模软件要求（39）
2.4.4 故障预计建模软件要求（39）
2.5 可靠性仿真试验过程及要求（40）
2.5.1 可靠性仿真产品信息收集（40）
2.5.2 数字样机建模（40）
2.5.3 应力仿真分析（46）
2.5.4 故障预计仿真分析（48）
2.5.5 可靠性评价（48）
2.6 可靠性仿真试验应用案例（51）
2.6.1 仿真试验对象简介（51）
2.6.2 CFD数字样机建模（52）
2.6.3 FEA数字样机建模（53）
2.6.4 模型修正与验证（55）
2.6.5 应力仿真分析结果（55）
2.6.6 故障预计仿真分析（64）
2.6.7 可靠性评价（66）
2.6.8 试验结论（66）
参考文献（66）
第3章环境应力筛选（67）
3.1 环境应力筛选概述（67）
3.1.1 环境应力筛选基本概念（67）
3.1.2 环境应力筛选基本特性（68）
3.1.3 环境应力筛选分类（69）
3.2 环境应力筛选应力及剪裁（70）
3.2.1 主要筛选应力介绍（70）
3.2.2 振动应力量值的剪裁（71）
3.3 常规筛选（77）
3.3.1 适用标准（77）
3.3.2 一般要求（77）
3.3.3 筛选应力条件（78）
3.3.4 一般实施过程（81）
3.3.5 应用案例（85）
3.4 定量筛选（94）
3.4.1 定量筛选适用标准（94）
3.4.2 定量筛选参数及实施（95）
3.4.3 定量筛选典型筛选应力及筛选强度（97）
3.4.4 环境应力筛选加速效应分析（102）
3.4.5 小结（108）
3.5 高加速应力筛选（108）
3.5.1 传统筛选技术面临的问题（108）
3.5.2 高加速应力筛选特点（110）
3.5.3 高加速应力筛选试验设备特征（111）
3.5.4 高加速应力筛选方案设计（112）
3.5.5 高加速应力筛选实施注意事项（117）
3.5.6 高加速应力筛选应用案例（118）
参考文献（121）
第4章可靠性强化试验（122）
4.1 可靠性强化试验概述（122）
4.2 可靠性强化试验基本原理（122）
4.3 可靠性强化试验设备特点（124）
4.4 可靠性强化试验方案设计（125）
4.4.1 受试产品要求（125）
4.4.2 试验应力的选择（126）
4.4.3 应力极限（128）
4.4.4 试验剖面设计（129）
4.5 可靠性强化试验的实施（131）
4.5.1 试验前准备工作（133）
4.5.2 试验执行（134）
4.5.3 试验记录及故障处理（144）
4.5.4 试验后工作（146）
4.6 可靠性强化试验应用案例（147）
4.6.1 受试产品介绍（147）
4.6.2 试验方案设计（147）
4.6.3 试验的实施（148）
4.6.4 试验结果（151）
4.7 小结（153）
参考文献（154）
第5章可靠性鉴定试验（155）
5.1 可靠性鉴定试验概述（155）
5.2 可靠性鉴定试验方案设计（155）
5.2.1 统计试验方案分类（155）
5.2.2 统计试验方案原理（156）
5.2.3 试验方案选取原则（158）
5.2.4 统计方案参数的确定（158）
5.3 可靠性鉴定试验剖面设计（160）
5.3.1 剖面设计基本原则（161）
5.3.2 剖面设计流程（161）
5.3.3 确定试验剖面的方法（162）
5.3.4 利用实测数据设计剖面的要点（166）
5.3.5 试验剖面案例（169）
5.4 可靠性鉴定试验实施（170）
5.4.1 可靠性鉴定试验流程（170）
5.4.2 试验前准备工作（170）
5.4.3 试验执行（173）
5.4.4 试验后工作（176）
5.4.5 故障分析与处理（176）
5.4.6 试验数据处理（178）
5.5 可靠性鉴定试验注意事项（181）
第6章可靠性综合评价（182）
6.1 可靠性综合评价概述（182）
6.2 多源可靠性数据收集（184）
6.2.1 信息收集范围（184）
6.2.2 信息质量要求（185）
6.2.3 信息收集过程（185）
6.2.4 信息传递（185）
6.2.5 信息分析（186）
6.2.6 信息审核（186）
6.2.7 信息有效性确认（186）
6.2.8 获取的多源可靠性数据（187）
6.3 可靠性综合评价的准备工作（187）
6.3.1 产品寿命分布函数的确定（187）
6.3.2 数据充分度的确定（188）
6.3.3 信息环境因子评价（188）
6.4 可靠性综合评价方法（189）
6.4.1 基于内外场结合试验的可靠性综合评价（189）
6.4.2 基于研制过程信息的可靠性综合评价（192）
6.5 可靠性综合评价案例（197）
6.5.1 基于内外场结合试验（197）
6.5.2 基于研制过程信息（202）
6.6 小结（203）
第7章加速试验与快速评价（204）
7.1 加速试验概述（204）
7.2 加速试验目的与分类（205）
7.2.1 加速试验目的（205）
7.2.2 加速试验分类（205）
7.2.3 加速试验技术核心（205）
7.3 整机加速试验与快速评价整体解决方案（207）
7.3.1 整机历史数据统计分析方法（208）
7.3.2 关键件加速试验技术（218）
7.3.3 板级电路寿命特征检测分析方法（226）
7.3.4 元器件寿命特征检测分析方法（228）
7.4 整机加速试验与快速评价应用案例（230）
7.4.1 整机历史数据统计分析（231）
7.4.2 关键件加速试验（233）
7.4.3 板级电路寿命特征检测分析（237）
7.4.4 元器件寿命特征检测分析（238）
7.4.5 整机可靠性综合分析（242）
7.4.6 整机使用寿命结论（243）
参考文献（243）

內容試閱：

4.HASS
HASS是加速环境应力筛选的一种形式。它代表了产品所经历的最严酷的环境，但通常持续很有限的一段时间。HASS是为达到“技术的根本极限”而设计的。此时，应力的微小增加就会导致失效数的大量增加。这种根本极限的一个例子是塑料的软化点。
5.HAST
随着近年来电子技术的高速发展，几年前出现的加速试验可能不再适应当今的技术了，尤其是那些专门针对微电子产品的加速试验。例如，由于塑料集成电路包的发展，现在用传统的、普遍被接受的85℃／85%RH的温度／湿度试验需要花上千小时才能检测出新式集成电路的失效。在大多数情况下，试验样本在整个试验中不发生任何失效，不发生失效的试验是说明不了什么问题的，而产品在使用中必定会偶尔失效，因此需要进一步改进加速试验。HSAT就是为代替老的温度／湿度试验而开发的方法。
1.7.2.6在加速试验中应当注意的问题
加速试验模型是对产品在正常应力水平下及一个或多个加速应力水平下的关键因素进行试验而导出的。在使用加速环境时一定要极其注意，以便识别和正确确认在正常使用中将发生的失效和一般不会发生的失效，因为加速环境一般都使用远高于现场使用时所预期的应力水平，加速应力会导致在实际使用中不可能出现的错误的失效机理。例如，将受试产品的温度升高到超过材料性能改变的温度点或休眠激活门限温度时，就会导致在正常使用中不会发生的失效的发生。在这种情况下，解决这种失效只会增加产品的费用，可靠性却不会有丝毫的提高。理解真正的失效机理来消除失效的根本原因才是极为重要的。

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