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章晓文 恩云飞 工业和信息化部电子第五研
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微电子器件可靠性（第2版）
『简体书』 作者：贾新章、刘红侠、游海龙、恩云飞、郑雪峰 出版：高等教育出版社 日期：2024-12-01 本书被列入集成电路新兴领域“十四五”高等教育教材。全书共7章，以硅微电子器件为中心，在介绍可靠性基本概念、梳理可靠性基本理念的基础上，重点介绍微电路可靠性设计技术、可靠性的工艺保证要求和控制方法、微电路可靠性试验与评价，以及支撑这些技术的可靠性数学、可靠性物理和失效分析技术。本书同时介绍了氮化镓器件的主要失效机理和可靠 ... |
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半导体集成电路的可靠性及评价方法
『简体书』 作者：章晓文,恩云飞,工业和信息化部电子第五研究所 出版：电子工业出版社 日期：2015-10-01 本书共11章，以硅集成电路为中心，重点介绍了半导体集成电路及其可靠性的发展演变过程、集成电路制造的基本工艺、半导体集成电路的主要失效机理、可靠性数学、可靠性测试结构的设计、MOS场效应管的特性、失效机理的可靠性仿真和评价。随着集成电路设计规模越来越大，设计可靠性越来越重要，在设计阶段借助可靠性仿真技 ... |
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可靠性物理
『简体书』 作者：恩云飞,谢少锋,何小琦,工业和信息化部电子第五研究所 出版：电子工业出版社 日期：2015-10-01 本选题全面阐述了电子元器件可靠性物理的基本概念和元器件失效机理。全书共14章，前3章介绍可靠性物理基本理论、电子材料和应力、典型失效物理模型，后八章分别论述了微电子器件、光电子器件、高密度集成电路等11类典型元器件的工艺结构、失效机理及数理模型。 ... |
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电子元器件失效分析技术
『简体书』 作者：恩云飞,来萍,李少平,工业和信息化部电子第五研究所 出版：电子工业出版社 日期：2015-11-01 本书是工程应用类书，主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容，使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念，技术和设备、方法和流程，指导开展相关的失效分析工作，并了解失效预防的一些基本方法和手段。 ... |
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