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功率半导体器件：封装、测试和可靠性
『简体书』 作者：邓二平、黄永章、丁立健 出版：化学工业出版社 日期：2024-05-01 ★★★★★ 内容全面，技术前沿：从功率半导体器件的基础，到封装、测试、可靠性。★★★★★ 全面掌握功率芯片测试技术：测试标准、方法、原理、设备、数据分析等等。★ ... |
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