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图解入门 半导体制造设备基础与构造精讲 原书第3版
『简体书』 作者:佐藤淳一 出版:机械工业出版社 日期:2022-06-01 说到芯片,相信关注它的朋友都知道,目前美国垄断市场占了全球50%的份额,而国内在芯片方面经常被美国卡脖子,比如中兴、华为等。而且不仅仅是卡成品芯片,还卡生产芯片 ... |
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图解入门——功率半导体基础与工艺精讲(原书第3版)
『简体书』 作者:佐藤淳一 出版:机械工业出版社 日期:2023-11-01 当前IGBTSiCGaN的研究进展及未来趋势探析借鉴日本功率半导体制造的经验剖析从水银整流器进化到IGBT的原因兼顾高电压与高速度脱碳社会与功率半导体实现快 ... |
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图解入门 半导体制造工艺基础精讲(原书第4版)
『简体书』 作者:佐藤淳一 出版:机械工业出版社 日期:2022-03-01 本书力求深入浅出、浅显易懂。面向的对象既包含具有一定半导体知识的读者,也包含与半导体商务相关的人士、准备涉足半导体领域的人士、感兴趣的职场人士、学生等。书中包含了专业性的描述,但大多数内容都尽量写得通 ... |
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图解入门 功率半导体基础与工艺精讲(原书第2版)
『简体书』 作者:佐藤淳一 出版:机械工业出版社 日期:2022-09-01 186个知识点,176张工艺与构造图表, 日本著名半导体专家佐藤淳一从业30多年积淀 复旦大学微电子学院教授蒋玉龙推荐 南京大学微制造与集成工艺中心原副主 ... |
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图解入门半导体系列(共两册:器件缺陷+功率半导体)
『简体书』 作者:山本秀和 上田修 佐藤淳一 出版:机械工业出版社 日期:2024-04-01 本书共分为4章,内容包括半导体器件缺陷及失效分析技术概要、硅集成电路LSI的失效分析技术、功率器件的缺陷及失效分析技术、化合物半导体发光器件的缺陷及失效分析技术。笔者在书中各处开设了专栏,用以介绍 ... |
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图解入门半导体系列(共四册:器件缺陷+元器件+设备基础与构造+制造工艺)
『简体书』 作者:山本秀和 上田修 二川清 执行直之 佐藤淳一 出版:机械工业出版社 日期:2024-04-01 本书共分为4章,内容包括半导体器件缺陷及失效分析技术概要、硅集成电路LSI的失效分析技术、功率器件的缺陷及失效分析技术、化合物半导体发光器件的缺陷及失效分析技术。笔者在书中各处开设了专栏,用以介绍 ... |
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