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多核处理器设计优化——低功耗、高可靠、易测试
『简体书』 作者：李晓维等 出版：科学出版社 日期：2021-11-01 《多核处理器设计优化：低功耗、高可靠、易测试》主要内容涉及多核处理器设计优化的三个方面：低功耗、高可靠和易测试；从处理器核、片上互连网络和内存系统三个方面论述多核处理器设计的低功耗和高可靠优化方法；从逻辑电路的可测试性体系结构以及存储器电路的自测试方面论述多核处理器的可测试性设计方法；从新型三维堆叠 ... |
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数字集成电路测试——理论、方法与实践
『简体书』 作者：李华伟、郑武东、温晓青、赖李洋、叶靖、李晓维 出版：清华大学出版社 日期：2024-06-01 《数字集成电路测试——理论、方法与实践》全面介绍数字集成电路测试的基础理论、方法与EDA实践。第1章为数字集成电路测试技术导论，第2～9章依次介绍故障模拟、测试生成、可测试性设计、逻辑内建自测试、测试压缩、存储器自测试与自修复、系统测试和SoC测试、逻辑诊断与良率分析等基础测试技术，第10章扩展介绍 ... |
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